Nikon Eclipse FN1
Прямой микроскоп Nikon Eclipse FN1
Специализированный patch-clamp микроскоп с l-образным корпусом - больше места для манипуляций с электродами
- Исправление осевых хроматических аберраций вплоть до ик-диалазона (до 850нм). Новые 40х и 60х объективы для получения ИК-ДИК изображении с высоким разрешением
- 100х объектив (числовая апертура 1,1, рабочее расстояние 2,5 мм) в функцией коррекции аберрации по глубине и аберрации вызванной изменениями температуры
- Вертикальное движение револьвера объективов позволяет менять увеличение без перемещения чашки Петри (15 мм или менее по высоте)
- Удобство выбора режима ИК освещения или отраженного света
- Использование двойного порта с устройством дополнительного увеличения(0,35х‚ 2х и 4х) дает возможность проводить наблюдение с одним объективом 16х в различных режимах: широкое поле и больше увеличение
- Визуализация глубоких слоев живых образцов возможна в конфигурации с многофотонной конфокальной системой А1 МР+/А1R MP+
Технические характеристики
Оптическая система |
CFI60 и CFI75 «бесконечная» оптика |
Базовый штатив |
В форме буквы "I", с внешним источником питания |
Фокусировка |
С помощью перемещения револьверной головки вверх/вниз; |
Револьвер объективов |
Скользящая направляющая («салазки») для объективов CFI60; |
Объективы |
CFI Plan Fluor 10xW NA: 0.3, W.D.: 3.5 |
LWD конденсор |
Универсальный, револьверного типа; |
Окуляры |
10x, F.N.: 22, 25 |
Окулярные тубусы |
Бинокулярный тубус (бинокуляр 100%); |
Предметный столик |
Прямоугольный столик FN1 (механический столик на 3 образца); |
Осветитель |
Ламповый блок с предварительной центровкой: галогенная лампа 12В-100Вт с длительным сроком эксплуатации; |
Условия эксплуатации |
Температура: От +10 C до + 40 C; |
Габариты и вес |
214 (ш) x 346 (в) x 422 (г) мм, около 12 кг (основная часть) |