Поиск по сайту

Nikon N-SIM


Nikon N-SIM 

Nikon 

Новая система Nikon N-SIM со сверхвысоким разрешением позволяет делать съемку с временным разрешением молекулярных взаимодействий живых клеток с высоким пространственным разрешением. Превышает традиционный дифракционный предел в два раза.


Микроскоп со сверхвысоким разрешением производства компании Nikon выводит ваши исследования на уровень наноскопии за границы дифракционного предела.

Новый микроскоп N-SIМ со сверхвысоким разрешением производства Nikon позволяет выявлять структуры и функции живых клеток на нано уровне. Разрешение обыкновенных оптических микроскопов, даже обладающих наибольшей числовой апертурой оптической системы, ограничивается дифракцией приблизительно до 200 нм. При помощи высокочастотной структурированной иллюминации микроскоп Nikon N-SIМ может давать разрешение 85 нм, считавшееся ранее недостижимым для оптических микроскопов. Более того, временное разрешение до 0,6 сек/кадр позволяет микроскопу N-SIM выполнять замедленную съемку динамических взаимодействий молекул в живых клетках со сверхвысоким разрешением. Наблюдение подобной динамики при таком разрешении может привести к новым открытиям. Микроскоп Nikon со сверхвысоким разрешением создан с применением мощных технологических разработок компании, но при этом работать с ним в лаборатории просто. Микроскоп N-SIM позволяет значительно расширить возможности изучения проблем с точки зрения наноскопии, а также дает уверенность в правильности заключений, которые можно сделать на основании изучаемых данных.

Метод структурированной иллюминации заключается в выявлении неизвестной ультраструктуры клетки путем анализа муарового рисунка, получаемого при иллюминации образца известным высокочастотным светом. Разработанный компанией Nikon метод структурированной иллюминационной микроскопии дает сверхвысокое до 85нм разрешение цветного изображения и позволяет осуществлять непрерывную съемку  с временным разрешением 0,6 сек/кадр при сверхвысоком разрешении изображения.

Различные режимы наблюдения

  • Режим TIRF-SIM/2D-SIM

Это режим для получения двухмерных изображений со сверхвысоким разрешением на высокой скорости и невероятно высокой контрастностью. Режим TIRF-SIM обладает преимуществом метода флуоресцеиции полною внутреннего отражения при разрешении. в два раза большем, чем разрешение обычных TIRF-микроскопов, что способствует более глубокому пониманию взаимодействия молекул на поверхности клетки.

  • Режим 3D-SIM

Наблюдение объекта в микроскоп N-SIM при сверхвысоком разрешении по осям дает возможность увидеть оптическое сечение образцов при разрешении 300 нм в клетках и тканях толщиной до 20 µM. Дополнительно к этому, в режиме 3D-SIM исключается свечение выходящего за пределы фокуса фона, что добиться удивительной контрастности изображении.

5 цветов лазера при сверхвысоком разрешении

Система Nikon LU-5 состоит из модулей, предусматривающих до 5 лазеров, обеспечивающих естественные цвета при сверхвысоком разрешении. Передача цвета является обязательным условием для изучения на молекулярном уровне динамических взаимодействий большого количества исследуемых белков.

Технические характеристики

Спецификации N-SIM

Разрешение в горизонтальной плоскости

115 нм в режиме 3D-SIM

Разрешение в вертикальной плоскости

269 нм в режиме 3D-SIM

Время получения изображений

До 0,6 с/кадр (TIRF-SIM/2D-SIM)

До 1 с/кадр (Slice 3D-SIM) (требуется еще 1-2 с. для подсчетов)

Режим получения изображений

TIRF-SIM (TIRF высокое разрешение XY)

2D-SIM (высокое разрешение XY, глубина до 3 мкм)

Slice 3D-SIM (высокое разрешение XYZ, глубина до 20 мкм)

Stack 3D-SIM (высокое разрешение XYZ, глубина до 50 мкм)

Многоцветное изображение

До 5 цветов

Совместимый лазер

Стандарт: 488нм, 561нм

Опции: 405нм, 458нм, 514нм, 532нм, 640нм

Сочетание лазеров:

405 нм/488 нм/514 нм/532 нм/561 нм,

405 нм/488 нм/514 нм/561 нм/640 нм, 

458 нм/488 нм/514 нм/532 нм/561 нм,

458 нм/488 нм/514 нм/561 нм/640 нм

Совместимый микроскоп

Механический инвертированный микроскоп ECLIPSE Ti-E

Система точной фокусировки

Механический столик XY с датчиками Пьезо-Z столик

Совместимый объектив

CFI SR Apochromat TIRF 100×, масляный (NA 1,49)

CFI Apochromat TIRF 100×, масляный (NA 1,49)

CFI SR Plan Apochromat IR 60×WI (NA 1,27)

CFI Plan Apochromat IR 60×WI (NA 1,27)

Камера

Andor Technology iXon3 897 EMCCD

ПО

NIS-Elements Ar/NIS-Elements C (для конфокального микроскопа A1+/A1R+)

Оба требуют опциональных модулей аналитического ПО NIS-A N-SIM

Условия эксплуатации

От 20 oC до 28 oC ( Ѓ} 0,5 oC)